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荧光镀层测厚仪的使用方法讲解

发布时间:2023-04-20 点击次数:422

摘要:荧光镀层测厚仪测量方便快捷,无需液氮,无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行精准检测。

荧光镀层测厚仪的使用方法主要有五种,分别是磁性测厚法、涡流测厚法、超声波测厚法、电解测厚法、放射测厚法。荧光镀层测厚仪的每种使用方法,都有其自身独特的优势。

1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢\铁\银\镍。此种方法测量精度高

2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。

3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵\测量精度也不高。

4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。

5.放射测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万rmb以上),适用于一些特殊场合。

荧光镀层测厚仪

膜厚仪Star II  应用场景

>荧光镀层测厚仪测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等

>可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度

>镀铬,例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品

>钢上锌等防腐涂层

>贵金属成分分析,贵金属镀层,如金基上的铑材料分析

>分析硬质材料涂层,例如 CrN、TiN 或 TiCN

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能,电镀液离子浓度分析

膜厚仪Star II 产品特点

>超大样品腔

>一键测试,一键打印报告

>与其他软件的无缝集成使其能够轻松导出数据,兼容LIMS数据库

>经久耐用,在充满考验的生产或实验室环境中使用寿命长

膜厚仪Star II  可分析的常见镀层材料

荧光镀层测厚仪可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用:如可检测铁镀镍、铜镀镍、铁镀铬、铜镀锡、铜镀金、铜镀银等单镀层的厚度和元素成分

多涂镀层应用:如Ni/Cu/Fe铁镀铜镀镍,Au/Ni/Cu铜镀镍镀金,Sn/Ni/Cu铜镀镍镀锡等

合金镀层应用:如ZnNi/Fe铁镀镍锌合金, ZnAl/Ni/Cu铜镀镍镀铝锌合金等

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