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EIAJED-4701半导体静电放电发生器

发布时间:2021-12-09 点击次数:968

摘要:EIAJED-4701-001半导体器件环境和耐久性试验方法,其中规定了静电放电发生器对半导体电子元件的抗扰度测试方法和结果判定,澳腾斯生产的静电放电发生器即可符合此标准。

除了EIAJED-4701-001半导体器件环境和耐久性试验方法,澳腾斯静电放电发生器也符合国家军用标准GJB548A-96方法3015、国家军用标准GJB128A-97方法1020、MIL-STD-883D、EIAJED-4701。

一、试验的实施

静电放电发生器试验应按照试验计划,采用对受试设备直接和间接放电的方式进行。它包括:

——受试设备典型工作条件;

——受试设备是按台式设备还是按落地式设备进行试验;

——确定施加放电点;

——在每个点上,是采用接触放电还是空气放电;

——所使用的试验等级;

——符合性试验中在每个点上施加的放电次数;

——是否还进行安装后的试验。

为了制定试验计划,可能需要进行某种调查性试验。

静电放电发生器

二、试验结果和试验报告

给出了对本标准有关的静电放电发生器的试验结果的评价和试验报告的指导性原则。

由于受试设备和系统的多样性和差异性,使得确定试验对设备和系统的影响变得比较困难。

若专业标准化技术委员会或产品技术规范没有给出不同的技术要求,试验绪果应该按受试设备的

运行条件和功能规范进行如下分类:

1.在技术要求限值内的性能正常;

2.功能或性能暂时降低或丧失,但能自行恢复;

3.功能或性能暂时降低或丧失,但要求操作人员干预或系统复位;

4.因设备(元件)或软件的损坏或数据的丟失而造成不能自行恢复至正常状态的功能降低或丧失。

设备不应由于进行本标准规定的试验而出现危险或不安全的后果。

验收试验时,试验程序和试验结果的说明必須在专门的产品标准中加以描述。

一般地,如果设备在整个试验期间显示其抗干扰度,并且在试验结束后,受试设备满足技术规范中的功能要求,则表明试验合格。

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人体对物体或两个物体之间产生的静电,可能引起电气,电子设备的电路发生故障,甚至被损坏。所以,模拟静电放电的测试在全世界范围内广泛地应用。静电放电发生器 (ESD Generator) 或叫静电放电模拟器(ESD Simulator),俗称静电放电枪(ESD gun)是电磁兼容测量与试验中静电放电抗扰度(ESD immunity)试验中的重要设备。目的是为了检验电子设备受到外来静电放电时能否正常工作。

依据标准:IEC61000-4-2和GB/T17626.2

主要技术参数:

1、输出电压:0.1~20.0Kv±3%  

2、电压极性:正或负

3、触发模式:SINGLE单次;COUNT按设定的放电次数放电;20pps20次/秒;

4、测试功能:内置IEC等级,

5、 放电模式:接触或气隙;放电间隔:0.05~9.99s(当20pps模式下,放电间隔为0.05s)

6、  计数器:1~9999(用于放电次数计数)

7、  放电电容:150Pf±10%(特殊要求可定制)

8、  放电电阻:330Ω±10%(特殊要求可定制)                

9、放电电极:圆锥形接触放电电极及球形气隙放电电极  

10、 使用环境:环境温度:10℃~35℃ 相对湿度:30%~60%    

11、 电源:单相AC85~265V,50/60Hz        

12、 重量:约4kg

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