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X射线荧光镀层测厚仪的使用主要事项有哪些?

发布时间:2022-01-11 点击次数:50

摘要:X射线荧光镀层测厚仪能提供:镀层厚度和元素分析功能,不但性能优越,而且价格优惠。分析镀层厚度和元素成份同时进行,只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果,多层镀层的厚度测量也一样能胜任。今天我们来介绍一下它的使用注意事项。

X射线荧光镀层测厚仪的使用注意事项

1、在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。

2、在测量的时候要注意,侧头与试样表面保持垂直。

3、在进行测试的时候要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。

4、在测量的时候要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。

5、测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。

6、测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。

7、在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。

8、在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

X射线荧光镀层测厚仪

X射线荧光分析测厚仪能提供:镀层厚度和元素分析功能,不但性能优越,而且价格优惠。分析镀层厚度和元素成份同时进行,只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果,多层镀层的厚度测量也一样能胜任。轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首要选择。

Cube系列可测量各类金属、合金单层及多层的镀层厚度、电镀液中金属离子的含量和合金元素成份及含量。

ACZET系列X射线荧光分析测厚仪特点:

ACZET系列X射线镀层测厚仪是基于X射线荧光技术,该技术已经被证实并且得到广泛应用,可以在无须样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体,元素范a围包括从元素周期表中的Ti22到U92,并且具有不同大小的样品舱。

产品功能:

1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度,测量方法满足GB/T 16921-2005标准(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987)。

1. 镀层元素范围:钛~铀,包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。

2. 镀层层数:多至5层。

3. 测量点尺寸:圆形测量点,直径约0.2-0.8毫米。

4. 测量时间:通常35秒-180秒。

5. 样品蕞大尺寸:330 x 200 x 170 mm (长x宽x高)。

6. 测量误差:通常小于5%,视样品具体情况而定。

7. 可测厚度范围:通常0.01微米到30微米,视样品组成和镀层结构而定。

8. 同时定量测量8个元素。

9. 定性鉴定材料达20个元素。

产品参数:

· X射线光管  微聚焦,高性能,钨靶,焦斑尺寸0.2-0.8mm

· 高电压 50千伏(1.2毫安)可根据软件控制优化

· 探测器  高分辨气体正比计数探测器

· 准直器  单一固定准直器直径0.3mm

· 样品仓  330 x 200 x 170 mm

· 样品台  手动Z轴样品台

· 电源    230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W

· 仪器尺寸  350 x 420 x 310 mm 

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