X荧光镀层测厚仪标准片选择与使用
摘要:根据您的产品,需要选择不同规格的镀层测厚仪,其中澳腾斯的X荧光镀层测厚仪靠着过硬的质量和准确的测试性能深受客户的青睐和喜爱。欢迎广大新老客户前来咨询。 |
1、一般要求
使用可靠的参考标准块校准仪器。最后的测量不确定度直接取决于校准标准块的测量不确定度和测量精度。
参考标准块应具有的已知单位面积质量或厚度的均匀的覆盖层,如果是合金,则应知其组成。参考标准块的有效或限定表面的任何位置的覆盖层不能超过规定值的±5%.只要用于相同的组成和同样或已知密度的覆盖层,规定以厚度为单位(而不是单位面积质量)的标准块,将是可靠的。合金组成的测定,校准标准不需要相同,但应当已知。
金属箔标准片。如果使用金属箔贴在特殊基体表面作标准片,就必须注意确保接触清洁,无皱折纽结。任何密度差异,除非测量允许,否则必须进行补偿后再测。
2、标准块的选择
可用标准块的单位面积厚度单位校准仪器,厚度值必须伴随着覆盖层材料的密度来校正。标准片应与被测试样具有相同的覆盖层和基体材料,但对试样基材为合金成分的,有些仪器软件允许标样基材可与被测试样基材不同,但前提是标准块基体材料与试样基材中的主元素相同。
3、标准块的X射线发射(或吸收)特性及使用
校正标准块的覆盖层应与被测覆盖层具有相同的X射线发射(或吸收)特性。
如果厚度由X射线吸收方法或比率方法确定,则厚度标准块的基体应与被测试样的基体具有相同的X射线发射特性,通过比较被测试样与校正参考标准块的未镀基体所选的特征辐射的强度,然后通过软件达到对X荧光镀层测厚仪的校正。
X射线荧光分析测厚仪能提供:镀层厚度和元素分析功能,不但性能优越,而且价格优惠。分析镀层厚度和元素成份同时进行,只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果,多层镀层的厚度测量也一样能胜任。轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首要选择。
Cube系列可测量各类金属、合金单层及多层的镀层厚度、电镀液中金属离子的含量和合金元素成份及含量。
ACZET系列X射线荧光分析测厚仪特点:
ACZET系列X射线镀层测厚仪是基于X射线荧光技术,该技术已经被证实并且得到广泛应用,可以在无须样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体,元素范a围包括从元素周期表中的Ti22到U92,并且具有不同大小的样品舱。
产品功能:
1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度,测量方法满足GB/T 16921-2005标准(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987)。
1. 镀层元素范围:钛~铀,包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。
2. 镀层层数:多至5层。
3. 测量点尺寸:圆形测量点,直径约0.2-0.8毫米。
4. 测量时间:通常35秒-180秒。
5. 样品蕞大尺寸:330 x 200 x 170 mm (长x宽x高)。
6. 测量误差:通常小于5%,视样品具体情况而定。
7. 可测厚度范围:通常0.01微米到30微米,视样品组成和镀层结构而定。
8. 同时定量测量8个元素。
9. 定性鉴定材料达20个元素。
产品参数:
· X射线光管 微聚焦,高性能,钨靶,焦斑尺寸0.2-0.8mm
· 高电压 50千伏(1.2毫安)可根据软件控制优化
· 探测器 高分辨气体正比计数探测器
· 准直器 单一固定准直器直径0.3mm
· 样品仓 330 x 200 x 170 mm
· 样品台 手动Z轴样品台
· 电源 230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W
· 仪器尺寸 350 x 420 x 310 mm
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